Вт. Апр 15th, 2025

Физические основы Оже-спектроскопи и нейтронографии

Развитие микроэлектроники поставило задачку исследования поверхности материалов с высочайшей точностью. Одним из используемых для этих способов является оже-спектроскопия, (Pier Victor Auger Пьер Виктор Оже, французский физик) основанная на облучении исследуемой…