Применение сканирующего СКВИД-микроскопа
contentССМ-77 предназначен для визуализации и количественных измерений локальных магнитных полей рассеяния высокотемпературных сверхпроводниковых тонкопленочных структур, магнитных пленок и магнитных микроструктур при температуре кипения водянистого азота, Т=77 К. Результаты измерений позволяют…