Растровый (сканирующий) электронный микроскоп
Растровый (сканирующий) электрический микроскоп (РЭМ, СЭМ) — прибор, позволяющий получать изображения поверхности эталона с огромным разрешением (несколько нанометров). Ряд дополнительных способов позволяет получать информацию о хим составе приповерхностных слоёв. Механизм…