Растровый (сканирующий) электрический микроскоп (РЭМ, СЭМ) — прибор, позволяющий получать изображения поверхности эталона с огромным разрешением (несколько нанометров). Ряд дополнительных способов позволяет получать информацию о хим составе приповерхностных слоёв. Механизм…
Зарождение электрической микроскопии связано с созданием в конце 19 века электронно-лучевой трубки (ЭЛТ). В первой осциллографической ЭЛТ (К. Ф. Браун, 1897) электрический пучок отклонялся магнитным полем. Отклонение заряженных частиц электростатическим…
В сопоставлении с растровым электрическим микроскопом (РЭМ) атомно-силовой микроскоп обладает рядом преимуществ. Так, в отличие от РЭМ, который даёт псевдотрёхмерное изображение поверхности эталона, АСМ позволяет получить поистине трёхмерный рельеф поверхности.…
content