Вс. Сен 8th, 2024

Методы измерения, использующие датчики на основе кантилеверов

Широким классом устройств на базе АСМ являются бесконтактные детекторы, имеющие сходство с микро/наноэлектромеханическими системами (М/НЭМС), макетом которых можно считать датчики поверхностного натяжения железных пленок, в первый раз обрисованных Стони в…

Применение сканирующего СКВИД-микроскопа

ССМ-77 предназначен для визуализации и количественных измерений локальных магнитных полей рассеяния высокотемпературных сверхпроводниковых тонкопленочных структур, магнитных пленок и магнитных микроструктур при температуре кипения водянистого азота, Т=77 К. Результаты измерений позволяют…

Введение

Цель курса – познакомить студентов с новыми, многообещающими направлениями развития информационно-измерительной техники и технологий, основанными на достижениях современной науки и техники. Идет речь о дополнительных главах квантовой механики, физики твердого…

Физические основы СКВИД — микроскопии

Чувствительный элемент сквида представляет собой кольцо из сверхпроводящего материала, содержащее один либо два джозефсоновских контакта. Возможность регистрации магнитных полей схожим устройством базирована на том факте, что ток, текущий в кольце,…