Ср. Ноя 20th, 2024

Устройство и принцип работы атомного силового микроскопа

В конце 1986 года тот же Бинниг предложил конструкцию прибора последнего поколения, который позволяет изучить поверхности с беспримерной детальностью, но уже совсем не непременно электропроводящие. Новый прибор был назван атомным…

Методы измерения, использующие датчики на основе кантилеверов

Широким классом устройств на базе АСМ являются бесконтактные детекторы, имеющие сходство с микро/наноэлектромеханическими системами (М/НЭМС), макетом которых можно считать датчики поверхностного натяжения железных пленок, в первый раз обрисованных Стони в…

Режимы работы сканирующих зондовых микроскопов

Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) является сравнимо новым способом исследования объектов с высочайшим пространственным разрешением. Первым зондовым микроскопом стало изобретение швейцарских ученых Герхарда Биннига и Хайнриха Рорера, предложивших 1981 г. использовать…