Чт. Ноя 21st, 2024

Методы измерения, использующие датчики на основе кантилеверов

Широким классом устройств на базе АСМ являются бесконтактные детекторы, имеющие сходство с микро/наноэлектромеханическими системами (М/НЭМС), макетом которых можно считать датчики поверхностного натяжения железных пленок, в первый раз обрисованных Стони в…

Методы исследования наноматериалов и наноструктур

Атомная структура наноструктур исследуется с внедрением про­свечивающего электрического микроскопа в режиме микродифракции. Для пре­дотвращения радиационного повреждения пленок электрическим пучком дифракционная картина ре­гистрируется при низкой интенсивности пучка с внедрением высокочувствительной видео­камеры…