В конце 1986 года тот же Бинниг предложил конструкцию прибора последнего поколения, который позволяет изучить поверхности с беспримерной детальностью, но уже совсем не непременно электропроводящие. Новый прибор был назван атомным…
Атомная структура наноструктур исследуется с внедрением просвечивающего электрического микроскопа в режиме микродифракции. Для предотвращения радиационного повреждения пленок электрическим пучком дифракционная картина регистрируется при низкой интенсивности пучка с внедрением высокочувствительной видеокамеры…
Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) был сотворен в 1982 г сотрудниками исследовательского отдела компании IBM Г. Биннигом и Х. Рёрером. Он открыл очень перспективные способности научных и прикладных исследовательских работ в…
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) является сравнимо новым способом исследования объектов с высочайшим пространственным разрешением. Первым зондовым микроскопом стало изобретение швейцарских ученых Герхарда Биннига и Хайнриха Рорера, предложивших 1981 г. использовать…
В сопоставлении с растровым электрическим микроскопом (РЭМ) атомно-силовой микроскоп обладает рядом преимуществ. Так, в отличие от РЭМ, который даёт псевдотрёхмерное изображение поверхности эталона, АСМ позволяет получить поистине трёхмерный рельеф поверхности.…
content