Растровый (сканирующий) электрический микроскоп (РЭМ, СЭМ) — прибор, позволяющий получать изображения поверхности эталона с огромным разрешением (несколько нанометров). Ряд дополнительных…
Зарождение электрической микроскопии связано с созданием в конце 19 века электронно-лучевой трубки (ЭЛТ). В первой осциллографической ЭЛТ (К. Ф. Браун,…
В сопоставлении с растровым электрическим микроскопом (РЭМ) атомно-силовой микроскоп обладает рядом преимуществ. Так, в отличие от РЭМ, который даёт псевдотрёхмерное…